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Paper · 2025 · PRX Quantum 6, 010334
Scalable Noise Characterization of Syndrome-Extraction Circuits with Averaged Circuit Eigenvalue Sampling
Evan T. Hockings, Andrew C. Doherty and Robin Harper
发布策略证据先于发布
证据定位1 / 1
关联技术1
代表角色1
指标观测2026-07-28
Research record
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Impact snapshots
分 provider 的动态影响力
openalexfound
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- 2026-07-28
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Crossref 与 OpenAlex 的口径和更新节奏不同，因此分别披露；这里不计算统一影响力分、热门分或质量分。
Representative roles
这篇论文为什么被选为代表来源
前沿代表核验 2026-07-28
串扰、漂移与校准失配
Presents scalable characterization of syndrome-extraction circuit noise for device-conditioned models.
Abstract; protocol construction and syndrome-circuit demonstrationsConnected entities
这篇论文支撑的技术实体
噪声模型来源证据
串扰、漂移与校准失配
由非目标耦合、共享控制或随时间变化的器件参数造成，并使固定 decoder prior 与实际设备分布失配的噪声。
已随源数据核验可复查定位
Protocol and syndrome-extraction circuit demonstrationsProvides scalable characterization for time- and device-conditioned circuit models.